《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語(yǔ)》
1.通用術(shù)語(yǔ)
1.1試驗
一項完整的環(huán)境試驗操作順序，通常包括：
a.預處理（必要時(shí)）；
b.初始檢測（必要時(shí)）；
c.條件試驗；
d.恢復；
e.*后檢測。
注：在條件試驗和（或）恢復期間可能要求中間檢測。

1.2預處理
為消除或部分抵消試驗樣品以前經(jīng)歷的各種效應，在條件試驗前對試驗樣品所做的處理。
1.3初始檢測
在預處理之后，條件試驗之前對試驗樣品的電性能、機械性能和外觀(guān)進(jìn)行的檢查和測量。
1.4條件試驗
把試驗樣品暴露到試驗環(huán)境中，以確定這種環(huán)境條件對試驗樣品的影響。
1.5恢復
在條件試驗之后，*后檢測之前為使試驗樣品的性能穩定所做的處理。
1.6*后檢測
在恢復之后對試驗樣品的電氣性能、機械性能和外觀(guān)所進(jìn)行的檢測和測量。
1.7試驗樣品
要進(jìn)行環(huán)境試驗的指定產(chǎn)品的樣本，包括使該產(chǎn)品功能完整的任何輔助部件和系統，如致冷、加熱和機械減震器（隔震器）等。
1.8相關(guān)規范
產(chǎn)品或材料要滿(mǎn)足的一組技術(shù)要求及用來(lái)判定這些要**否被滿(mǎn)足的檢測的方法。
1.9嚴酷等級
試驗樣品進(jìn)行條件試驗所用的一組參數值。
1.10綜合試驗
兩種或多種試驗環(huán)境同時(shí)作用于試驗樣品的試驗。
1.11組合試驗
把試驗樣品依次連續暴露到兩種或多種試驗環(huán)境中的試驗。
注：①各次暴露之間的時(shí)間時(shí)隔可能對試驗樣品有顯著(zhù)影響，應準確地予以規定。
②各次暴露之間一般不進(jìn)行預處理、恢復和穩定。
③檢測工作通常在**次暴露前和*后暴露結束后進(jìn)行。

1.12試驗順序
試驗樣品被依次暴露到兩種或兩種以上試驗環(huán)境中的順序。
注：①各次暴露之間的時(shí)間間隔通常對試驗樣品不產(chǎn)生明顯影響。
②各次暴露之間通常要進(jìn)行預處理和恢復。
③通常在每次暴露之前和之后進(jìn)行檢測，前一項暴露的*后檢測就是下一項暴露的初始檢測。

1.13基準大氣
溫度為20℃、氣壓為101.3kPa的大氣。

1.14仲裁測量
在推薦的周?chē)髿鈼l件范圍內測量未能獲得令人滿(mǎn)意的結果且未知把大氣條件的敏感參數調整到標準基準大氣參數值的校正系數時(shí)，在精密控制的大氣條件下所進(jìn)行的重復測量。